本發明公開了一種陣列天線的環境篩選方法,主要包括以下步驟:在標準大氣壓條件下,對受篩產品按產品技術條件規定的項目和要求進行初始功能檢測,記錄檢測數據,檢測不合格的產品不進行環境應力篩選;將功能檢測合格的受篩產品通過溫度循環以及振動循環同時進行功能檢測;然后在標準大氣條件下進行最后的功能檢測。通過變溫箱循環10次,溫度在+85℃至?55℃,溫度變化速率5℃/min環境中以及震動環境中進行5min中的應力測試,排除產品中不良零件、元器件、工藝缺陷和防止出現早期失效。
聲明:
“陣列天線的環境篩選方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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