本發明屬于超聲檢測領域,尤其涉及一種相控陣超聲二維陣列三維成像方法。且在所述三維成像方法中的波束合成方法包括:劃分步驟:集總相關校正步驟:鄰近相關校正步驟。本發明解決了二維陣列探頭陣元面積小、回波信號弱、信噪比差,以及陣列在加工和應用中不可避免地的造成部分陣元靈敏度變差或者失效的技術問題。本發明利用了集總相關校正抗噪聲干擾能力強;鄰近相關校正在信號信噪比較高時,估計精度較高的優點,確保最終合成信號有更高的信噪比。
聲明:
“相控陣超聲二維陣列三維成像方法及其應用” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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