本申請公開了一種集成芯片的控制方法,其中,集成芯片中設置有模擬控制電路,該方法包括:對集成芯片進行檢測;當集成芯片失效時,則利用模擬控制電路對集成芯片中的模擬電路模塊進行控制。顯然,通過這樣的設置方式不僅能夠避免集成芯片中的模擬電路模塊由于集成芯片失效而出現的不可控現象,而且,也可以推測出集成芯片產生失效的原因,此時通過對導致集成芯片發生失效的信號進行控制,就可以保證集成芯片的正常運行。相應的,本申請所提供的一種集成芯片的控制裝置、設備及介質,同樣具有上述有益效果。
聲明:
“集成芯片的控制方法、裝置、設備及介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)