本發明涉及自修復陣列系統和方法??赏ㄟ^以下步驟來處理自修復陣列中的失效:通過監測自修復陣列的失效元件的特性來檢測失效元件(52);通過調整自修復陣列的失效元件的特性以補償失效元件失效的部分來自動修正失效元件(62);或者當自修復陣列的一個或多個元件失效時,通過檢測和模擬自修復陣列的失效的一個或多個元件對自修復陣列的性能的影響來修正自修復陣列的性能(72)。
聲明:
“自修復陣列系統和方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)