合肥金星智控科技股份有限公司
宣傳

位置:中冶有色 >

有色技術頻道 >

> 失效分析技術

> 用于透射電子顯微鏡俯視觀察的芯片樣品制備方法

用于透射電子顯微鏡俯視觀察的芯片樣品制備方法

1091   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 09:00:38
本發明提供一種用于透射電子顯微鏡俯視觀察的芯片樣品制備方法,包括:提供待測樣品,在待測樣品的頂面沉積第一保護層,使第一保護層覆蓋以與待分析目標相垂直對應的待測樣品的頂面部分為中心擴展的矩形區域;在第一保護層的四個頂角以及四條邊緣的中心位置沉積呈正方形的第二保護層;沉積第三保護層,以完全覆蓋第二保護層和第一保護層;去除位于第一保護層所覆蓋的部分之外的待測樣品,使待測樣品的兩個相平行的側面的下部呈倒三角形;將待測樣品的下部呈倒三角形的兩個側面之一附著于支撐臺上;通過精磨去除第三保護層、第二保護層和第一保護層。根據本發明,可以將制備樣品的時間控制在1小時之內,不會損傷待測樣品中出現失效的部分。
登錄解鎖全文
聲明:
“用于透射電子顯微鏡俯視觀察的芯片樣品制備方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
分享 0
         
舉報 0
收藏 0
反對 0
點贊 0
標簽:
失效分析
全國熱門有色金屬技術推薦
展開更多 +

 

中冶有色技術平臺

最新更新技術

報名參會
更多+

報告下載

赤泥綜合利用研究報告2025
推廣

熱門技術
更多+

衡水宏運壓濾機有限公司
宣傳
環磨科技控股(集團)有限公司
宣傳

發布

在線客服

公眾號

電話

頂部
咨詢電話:
010-88793500-807
專利人/作者信息登記
在线精品视频播放|无码 有码 国产18p|宅男精品一区在线观看|伊人色综合久久天天人手人婷|亚洲熟肥妇女BBXX