本發明涉及一種儀器電控設備加速退化試驗方法,首先根據儀器電控設備試驗樣品的原始性能參數對儀器電控設備試驗樣品的性能參數保質期進行預測,然后合理地設置加速退化試驗條件,在進行加速退化試驗置換,再對試驗所得的失效時間數據進行可靠性分析,確定滿足可靠性條件的失效時間數據作為試驗樣品的試驗數據,能夠有效提高加速退化試驗數據的可靠性。
聲明:
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