本申請公開了一種芯片管理方法和系統,將晶圓中的多個管芯分別與其對應的身份信息關聯,在晶圓測試過程采集晶圓中的多個管芯的第一測試數據,在芯片測試過程采集芯片的第二測試數據,芯片內封裝有相應的所述管芯,最后根據封裝在芯片內的管芯的身份信息將第二測試數據與第一測試數據整合,得到追溯數據庫,在失效分析時可以根據待分析芯片的身份信息查找追溯數據庫得到該芯片的測試數據,通過在芯片測試數據追溯中設計標記信息,有利于節省了數據追溯時間和追溯成本,提高數據追溯的效率。
聲明:
“芯片管理方法和系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)