本發明公開了一種微波介質振蕩器貯存壽命評估方法,包括:對微波介質振蕩器長期貯存的退化機理、敏感應力及敏感參數進行調研分析,確定微波介質振蕩器的長期貯存退化機理、敏感應力及敏感參數。通過對微波介質振蕩器退化機理、敏感應力及敏感參數等的分析,設計并實施溫度步進應力加速退化試驗,并基于退化軌跡建模的評估方法對不同溫度應力下的退化數據進行處理,結合阿倫紐斯模型,可以外推得到常溫貯存條件下樣本的偽失效壽命;對偽失效壽命進行分布類型檢驗,并結合工程經驗確定壽命分布類型及分布參數,最終可以給出微波介質振蕩器長期貯存后的可靠度指標。
聲明:
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