本公開涉及計算機技術領域,尤其涉及一種集成電路修補算法確定方法及裝置、存儲介質、電子設備。所述方法包括:獲取待修補集成電路的失效測試單元數據;根據所述失效測試單元數據并結合由深度學習網絡構建的類型分析模型獲取所述待修補集成電路的失效單元分布類型;根據所述失效單元分布類型在修補算法庫中獲取各候選修補算法對所述失效單元分布類型的修補性能指標,并將所述修補性能指標最優的所述候選修補算法確定為目標修補算法。本公開使得對每個待修補集成電路的修補均可達到修補率最高、修補電路的使用數量最少、修補分析時間最短等,同時提高了修補效率和準確率,同時也降低了修補成本。
聲明:
“集成電路修補算法確定方法及裝置、存儲介質、電子設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)