一種用于在可靠性壽命測試中判斷組1(一種產品、組件或系統)是否具有比組2更長壽命的方法。該方法無需假設分布的形式,并且其數據分析方法可應用于所有種類的數據和分布。該方法提供了比參數方法更準確的解決方案。在對雙峰、早期失效和失效機制預先檢查之后,本發明通過非參數方法采用具有良好精確度的數字方法;被測數據可以是經終檢、區間或雙峰的,并不局限于完全類型的簡單情況。本發明可以用于確定所有類型和級別上的可靠性測試的多樣性。本發明的方法基于可比性指標來執行確定,可比性指標是通過對被比較的兩個組的可靠性函數之間的經加權的差異求積分而導出的。若干指標用于使可靠性可比性有效。其他指標用于使我們的發明更靈活。
聲明:
“確定半導體IC可靠性可比性的基于知識的統計方法和系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)