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電子產品在電壓應力作用下的小樣本試驗壽命預測方法

740   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 09:00:35
本發明提供一種電子產品在電壓應力作用下的小樣本試驗壽命預測方法,其包括以下步驟:S1對失效數據按照電壓應力水平分組并從小到大重排;S2依照矩模型得到威布爾壽命分布形式;S3得到等效威布爾壽命數據;S4計算調協威布爾壽命分布;S5列出關注的信度并計算信度對應的分位值;S6得到各信度水平下電壓應力?壽命函數;S7得到選定電壓應力水平下的威布爾壽命分位值;S8使用最小二乘模型得到選定電壓應力水平下的壽命分布。本發明根據不確定理論通過分布參數的估計、電子產品壽命數據擴充,修正分布參數,最終得到電壓應力?壽命模型,解決了小樣本情況造成的威布爾分布參數估計不準確問題,提高了壽命評估的準確性和穩定性。
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