本發明公開了一種基于有限元仿真的IGBT狀態監測方法,其包括以下步驟:S1、獲取IGBT模塊Vce,on的歷史數據;S2、建立鍵合線退化過程的失效物理模型;S3、建立鍵合線退化過程的狀態空間方程;S4、通過參數學習算法確定Vce,on修正方程的未知量;S5、狀態估計。本發明揭示了IGBT模塊Vce,on的增加與鍵合線退化的關系,建立了IGBT模塊鍵合線退化的精確模型,利用基于粒子的邊緣重采樣移動算法估算出當前裂紋長度,從而進行狀態估計。從建立模型到算法實現,不需要進行大量的功率循環試驗,與傳統狀態監測方法相比,降低了時間成本和經濟成本,減小了監測誤差,提高了IGBT的可靠性。
聲明:
“基于有限元仿真的IGBT狀態監測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)