一種非致冷半導體激光器的老化測試系統,所述測試接口板與控制板連接,所述控制板的輸出端與顯示器連接;所述控制板包括ADC芯片,MCU控制器和為非制冷半導體激光器供電的可調驅動電路,所述測試接口板與所述可調驅動電路連接,所述ADC芯片采集所述可調驅動電路的電壓信號,并轉為數字信號傳遞到MCU控制器的輸入端,所述MCU控制器將所述數字信號進行處理并通過輸出端與顯示器連接。本實用新型是為了提高非制冷半導激光器的可靠性和穩定性而設計的一種老化測試系統。在高100℃環境下,通過上電老化測試,給非制冷半導體激光器提供一個穩定的受控電流,并實時監測激光器的實際工作電流,以達到可靠性篩選的目的,將早期失效產品濾除。
聲明:
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