本實用新型公開了一種智能卡測試設備,主要針對智能卡在生產和使用過程中,可能存在的物理結構被破壞或數據異常丟失等失效現象而提出的一種測試設備。該設備實現現有測試方案中所沒有描述的測試項目,能夠同時對智能卡進行帶電老化壽命、金屬面耐磨強度兩個項目進行測試。該設備所包括的主要結構如下:直流電源系統;機械運動結構;夾卡裝置;智能卡讀卡結構。本實用新型提出的智能卡的測試設備,對智能卡可靠性進行嚴格地考核,能夠提前發現由于智能卡結構和系統設計可靠性問題而導致的生產測試成品率的低下,或者智能卡內所存儲的數據易丟失等問題。
聲明:
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我是此專利(論文)的發明人(作者)