本發明實施例提供了一種測試存儲器的方法和裝置,存儲器包括自測試控制器,方法包括:將存儲器與第一測試設備連接,通過第一測試設備發送啟動自測試指令至存儲器;通過自測試控制器確定存儲器的各待測試功能,并根據各待測試功能對存儲器進行循環測試,直至循環次數等于預設最大測試次數;將存儲器與第二測試設備連接,通過第二測試設備對存儲器進行全功能測試,并當任一功能測試失敗時,判斷存儲器失效。本發明實施例不僅簡化了老化測試流程,提高了老化測試的便利性和批量生產存儲器時的產出效率,還大幅降低了老化測試對測試設備的要求,進而降低了產品老化測試成本。
聲明:
“測試存儲器的方法和裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)