本發明基于變異生成測試案例的情況,提出了一種不完全反饋模糊測試框架,該測試框架在CERT基本模糊測試框架的基礎上引入隱式狄利克雷分布LDA。本發明提出的不完全反饋模糊測試框架,解決了模糊測試時,當目標系統的詳細故障信息不能獲取,而只能通過外部觀測器獲取部分信息時,現行方法失效的問題。與現行方法相比,本發明的測試框架可最大程度上發現目標系統應用的特定錯誤。本測試框架既不對種子的預選做任何前提假設,也不對測試案例的生產方式做任何限制。因此,本框架可與多種相關方法接合。另外,對測試環境和儀器也沒有任何特殊要求。
聲明:
“不完全反饋模糊測試框架” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)