本發明公開了一種可實現自動重復浪涌的浪涌測試方法,包括以下內容:將需要被測試的功率半導體器件放置在測試臺上,使被測器件和浪涌測試平臺的浪涌電流輸出端安全可靠連接,然后設置浪涌周期數目、兩次浪涌測試的間隔時間以及浪涌電流的幅值和周期。在浪涌測試期間,測量被測器件的源漏電壓和浪涌電流,在浪涌測試前和浪涌測試后測量各個電極間的電阻、轉移特性曲線等電學參數。遭受浪涌電流沖擊的被測器件的電學特性通常會發生變化,根據所測量的電學參數的變化來判斷器件是否失效以及器件性能的退化程度。本發明解決了傳統的以LC振蕩原理為基礎的浪涌測試平臺僅能進行單次浪涌測試的問題,通過選擇合適的開關器件以及設計合理的浪涌電流發生電路得到了能夠實現自動重復浪涌的測試平臺。
聲明:
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