本發明一種存儲器芯片內建自測試方法和電路裝置,所述方法包括:將原始測試向量輸入至待測電路,以生成測試數據信號;將原始測試向量輸入至寄存器中,使得原始測試向量與測試數據信號同步;對延遲后的原始測試向量和測試數據信號進行邏輯異或運算,以生成用于表示待測電路是否有效的測試結果指示信號;將延遲后的原始測試向量的相位反轉180度生成反相測試向量,并將反相測試向量和測試數據信號進行邏輯與非運算,輸出邏輯狀態指示值,用于表示待測電路失效時,測試數據信號的邏輯狀態;根據測試結果指示信號,擇一輸出用于表示待測電路的有效測試結果和邏輯狀態指示值中的一種。能夠判斷出待測電路是否有效,而且進一步得到待測電路的失效形態。
聲明:
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