本發明公開了一種輸入輸出端口的測試方法,該測試方法通過將嵌入式系統所有的輸入輸出設備的端口測試拆分為多次執行的單端口測試,每次端口測試僅針對一個待測端口進行:對輸入輸出設備的一個待測端口傳輸測試信息,回采待測端口的測試信號及該輸入輸出設備的其他非待測端口的正常信號,通過對待測端口回采的信號和非待測端口回采的信號進行異常判斷,從而確定該待測端口是否存在靜態失效或串擾失效。采用本發明測試方法簡單易行,且能有效實現多周期執行,不影響系統正常運行。
聲明:
“輸入輸出端口的測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)