本發明為一種存儲器輻照測試方法以及實現該方法的裝置,其包括:輻射源、電平轉換電路、主控單元、數據輸入單元以及系統配置和處理單元。用以實現對存儲器件的動態輻照測試,首先進行初始化操作,對至少一被測存儲器件寫入指定數據,然后開啟輻射源對被測存儲器件進行規定強度、規定距離、規定時間的輻照;在測試過程中根據特定的讀寫模式向所述被測存儲器件讀出數據/寫入數據;實時的將被測存儲器件的實際輸出值和預期值進行對比,判斷其是否正確;一旦出現錯誤數據,立刻記錄其失效信息;一次實驗就能找到被測存儲器件失效的臨界點。從而達到整個過程都在同步動態記錄,減少了實驗次數,節約測試成本的目的。
聲明:
“存儲器輻照測試方法以及實現該方法的裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)