合肥金星智控科技股份有限公司
宣傳

位置:中冶有色 >

有色技術頻道 >

> 失效分析技術

> CMOS器件壽命預測方法、裝置、電子設備及介質

CMOS器件壽命預測方法、裝置、電子設備及介質

820   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 09:00:18
本公開實施例公開了一種CMOS器件壽命預測方法、裝置、電子設備及介質。其中CMOS器件壽命預測方法包括:獲取CMOS器件在加速應力試驗下電參數的時間序列樣本數據集,所述時間序列樣本數據集包括表征所述CMOS器件壽命的電參數退化量的時間序列樣本數據;基于所述時間序列樣本數據集得到訓練集;用所述訓練集訓練時序模型,獲得壽命預測模型;用所述壽命預測模型預測所述CMOS器件的失效時間。上述技術方案減少了現有技術中因對CMOS器件進行完整的加速應力試驗以確定其使用壽命的時間成本,提高了產品質檢效率,縮短了CMOS器件的生產周期,解決了CMOS器件生產效率低的問題。
登錄解鎖全文
聲明:
“CMOS器件壽命預測方法、裝置、電子設備及介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
分享 0
         
舉報 0
收藏 0
反對 0
點贊 0
標簽:
失效分析
全國熱門有色金屬技術推薦
展開更多 +

 

中冶有色技術平臺

最新更新技術

報名參會
更多+

報告下載

赤泥綜合利用研究報告2025
推廣

熱門技術
更多+

衡水宏運壓濾機有限公司
宣傳
環磨科技控股(集團)有限公司
宣傳

發布

在線客服

公眾號

電話

頂部
咨詢電話:
010-88793500-807
專利人/作者信息登記
在线精品视频播放|无码 有码 国产18p|宅男精品一区在线观看|伊人色综合久久天天人手人婷|亚洲熟肥妇女BBXX