本發明提出一種共用基底集成電路測試方法、裝置和系統,在共用基底上包含有復數個被測單元和復數個被測單元運行結果比較裝置,不同被測單元執行同一輸入激勵,各自產生運行結果,運行結果由共用基底上的相應運行結果比較裝置比較,產生比較特征,根據特征檢測出失效被測單元。本發明能降低測試成本,縮短形成規模量產時間,降低漏測率。
聲明:
“共用基底集成電路測試方法、裝置和系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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