本發明公開了可以實現溫控的集LED漏電流與抗靜電能力測試于一體的檢測方案。本發明采用TLP測試系統測量漏電流,并引入恒溫鼓風干燥箱控制箱實現溫控調節,同時消除了空氣中的濕度可能對靜電測試結果的影響。采用本發明所述方法,既能利用TLP模型測量各個溫度下通過LED的漏電流,反映出LED芯片的質量高低,又可以產生幅度連續可調的矩形短脈沖進行LED芯片的抗靜電能力檢測,說明器件存在的一些潛在失效機理。
聲明:
“發光二極管漏電流測試方法及系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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