本發明屬于半導體光電器件的制造技術,涉及一種半導體激光器的可靠性測試方法,此方法為檢測產品的工作性能。其檢測方法如下:A:在常溫25℃下給激光器加一個工作電流使出光功率為Po,測試其當前的背光電流Im并記錄;B:在高溫85℃下給激光器加一個工作電流使背光電流為Im,測試其當前的出光功率P1并記錄;C:在低溫-40℃下給激光器加一個工作電流使背光電流為Im,測試其當前的出光功率P2并記錄;D:高溫85℃下激光器的光功率變化TE=10LOG(P1/Po);E:低溫-40℃下激光器的光功率變化TE=10LOG(P2/Po);F:合格判定標準為TE≤1.5dB。本發明的優點是可以預先判定一個激光器的工作穩定性和失效模式,將產品成本降到最低,其測試的方法簡單方便,測試系統搭建的成本低。
聲明:
“半導體激光器的可靠性測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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