一種掃描電鏡中單根納米線原位力學綜合性能測試裝置及方法,屬于納米材料性能原位檢測領域。該發明通過設計粗調位移平臺、壓電陶瓷拉伸單元和微懸臂梁力學檢測系統,實現對納米線的彈性,塑性和斷裂過程的力學性能定量測量,也可以對納米線進行電學性能測量。利用掃描電子顯微鏡成像系統原位實時記錄納米線在力場和電場作用下彈塑性變形過程、斷裂失效的方式以及電荷傳輸特性,將納米線的力學性能,電學性能,力學和電學耦合性能以及微觀結構變化直接對應起來,從納米尺度上揭示一維納米線的綜合性能。本發明結構簡單,便于操作,應用范圍廣,具有直觀性和定量檢測的特性,便于解釋和發現納米材料優異的力學等綜合性能。
聲明:
“掃描電鏡中單根納米線原位力學綜合性能測試裝置及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)