本發明公開一種存儲器測試方法、裝置、存儲器、設備及可讀存儲介質。所述方法包括:對存儲器中的各存儲單元進行保持時間測試,以分別獲得各所述存儲單元的保持時間;確定本次獲得的各所述存儲單元的保持時間是否不小于預設的時間規格;當各所述存儲單元的保持時間不小于所述時間規格時,統計已執行的保持時間測試的當前測試次數;當所述當前測試次數小于預設測試次數時,進入下一次所述保持時間測試。根據本發明提供的存儲器測試方法,可精確地檢測到失效存儲單元,增大了存儲器測試的覆蓋率,降低了后續封裝測試過程中存儲單元發生邊緣失效的風險,保證了存儲器的可靠性。
聲明:
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