本申請公開了一種閃存的有效性預測方法、裝置及存儲介質,其中方法包括:基于預定的擦除次數間隔,利用若干檢測模型對待檢測的閃存芯片進行若干次可靠性等級檢測,獲得若干初始檢測結果;基于各所述初始檢測結果確定所述閃存芯片為有效狀態或確定所述閃存芯片為非有效狀態。本申請通過以預定擦除次數間隔執行預測,并且通過采用多模型、多次預測的方式來獲得若干初始檢測結果,然后綜合各初始檢測結果來最終確定閃存芯片為有效狀態或者為非有效狀態,提高預測的準確度,有效降低因為閃存芯片數據失效導致的數據安全隱患。
聲明:
“閃存的有效性預測方法、裝置及存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)