本文中描述微電子裝置測試以及相關方法、裝置和系統。裝置可包含存儲器陣列,所述存儲器陣列包含某一數目的行和某一數目的列。所述存儲器裝置可進一步包含耦合到所述存儲器陣列的電路。所述電路可經配置以對所述數目的行中的每一行執行測試操作以檢測:所述數目的行中的第一行的第一失效;以及與所述數目的行的行集合相關聯的額外失效集合。所述電路還可經配置以確定所述行集合是否鄰近于所述第一行。此外,響應于確定所述行集合鄰近于所述第一行,所述電路可經配置以產生指示所述數目的列中的列的失效的信號。
聲明:
“微電子裝置測試以及相關裝置、系統和方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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