本發明提供一種電介質擊穿測試結構,本發明通過在待測試電容結構的漏電流的變化來導通旁路電路,并通過旁路電路的導通來斷開整個電路,以避免待測試電容結構的薄弱點在測試過程中發生硬擊穿而燒毀,同時待測試電容結構的薄弱點位置可以產生一定的漏電流,使得所述待測試電容結構在測試過程中可以進一步的進行失效分析,從而使得待測試電容結構的缺陷可以被發現,并作出針對性的改善。
聲明:
“電介質擊穿測試結構” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)