本實用新型涉及一種新型高溫反向偏壓測試機,所述待測元件與保護模塊之間串聯連接一電子開關模塊,該電子開關模塊的控制端通過一單片機模塊連接所述工控機的串口模塊。本實用新型中,利用繼電器、三極管、IGBT、MOSFET或可控硅這些元器件的特性,將工控機預先設定的電流和漏電流測量模塊的輸出進行比較,然后由工控機控制單片機模塊驅動上述元器件的通斷,實現了待測元件所在回路的通斷,使待測元件不會進一步燒毀,為失效分析工程師提供了接近完好的材料,便于數據分析,而且工控機可計算出待測元件不同溫度條件下的結溫。
聲明:
“新型高溫反向偏壓測試機” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)