本發明提出一種內建耐力測試系統、老化測試裝置及相應的耐力測試方法,內建耐力測試系統包括一供電端、一接地端、一時鐘端以及一輸出端;所述內建耐力測試系統通過所述供電端、接地端和時鐘端啟動,并對一芯片進行耐力測試,并通過所述輸出端輸出耐力測試結果。老化測試裝置包括整機測試板、安置在所述整機測試板上的至少一組芯片、集成在每一芯片中的內建耐力測試系統、接收內建耐力測試系統輸出的耐力測試結果的解碼器以及根據解碼器輸出的解碼結果以確定不能實現耐力測試的芯片的終端測試設備,以解決每批次進行的耐力測試樣品數量少、耐力測試周期過長,且無法自動判斷芯片樣品讀取動能失效以及測試成本昂貴的問題。
聲明:
“內建耐力測試系統、老化測試裝置及相應的耐力測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)