本發明提供一種適用于TDDB的原位熱點偵測方法,包括:提供待測樣品,對所述待測樣品的電性參數進行驗證;定義應力條件及偵測熱點的初始應力條件;對所述待測樣品施加應力;觀測中間數據,若所述待測樣品達到偵測熱點的初始應力條件,施加熱點偵測電壓偵測熱點;若偵測到熱點,則進行失效分析或繼續TDDB測試。本發明中,實現了原位對失效樣品熱點的偵測,及時精準的反應了樣品的失效位置,為進一步失效分析提供了有力保障。
聲明:
“適用于TDDB的原位偵測熱點方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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