本發明公開了一種基于Coffin?Mason的LED引線壽命預測方法,屬于LED測試技術領域,在加速壽命實驗中增加功率循環載荷,通過有限元仿真計算獲取金引線塑性應變幅,再結合溫度與電流加速老化試驗,擬合出樣品的coffin?mason公式,得到引線壽命與引線在不同工作條件下的應變幅的關系曲線,再對不同條件下的樣品進行功率循環仿真計算得到應變幅,再根據公式預測出引線的實際壽命。本發明可實現對不同工作條件下的芯片在金屬引線疲勞失效方面的壽命預測;預測壽命效率高,預測準確性高,引入功率循環供電因素,提高了老化實驗以及預擬合壽命預測經驗公式的效率。
聲明:
“基于Coffin?Mason的LED引線壽命預測方法及測試裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)