本發明公開了一種半導體激光器的工作性能檢測技術,具體地說是一種半導體激光器的測試系統及測試方法,屬于半導體光電器件的制造技術領域。它包括待測光器件以及用于放置待測光器件的高低溫循環箱,待測光器件與一個能夠為待測光器件提供電流的電流源連接,待測光器件還與一個能夠測試其出光功率的光功率計連接,電流源和光功率計的輸出信號端均連接到一臺計算機上。采用上述的結構和方法后,可以方便、有效、迅速地進行檢測,預先判定一個激光器的工作穩定性和失效模式,從而大大縮短了檢驗的周期和降低了檢驗的成本,同時對生產過程進行有效的管控,將產品成本降到最低,同時保障了客戶利益,其測試的方法簡單方便,測試系統搭建的成本低。
聲明:
“半導體激光器的測試系統及測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)