根據本發明的閃存錯誤檢查及糾正修復方法包括:初始測試步驟,用于使閃存通過晶圓級測試以及封裝級測試;應用步驟,用于將閃存應用至特定應用領域;第一判斷步驟,用于判斷是否存在擦除動作;其中,當第一判斷步驟中判斷存在擦除動作時讀取整個擦除區域;在讀取整個擦除區域之后執行第二判斷步驟,用于判斷是否存在讀取失效。當第二判斷步驟中判斷存在讀取失效時執行用于判斷是否存在行失效的第三判斷步驟。當第三判斷步驟中判斷存在行失效時執行用于判斷冗余扇區是否失效的第四判斷步驟。當第四判斷步驟中判斷冗余扇區失效時利用冗余扇區來進行修復。
聲明:
“閃存錯誤檢查及糾正修復方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)