本發明提供一種基于B?S分布的加速機理等同性檢驗與壽命預測方法,即一種基于B?S分布的ALT機理等同性檢驗與壽命預測方法,其步驟如下:一:估計B?S分布模型中的尺度參數;二:檢驗產品在加速壽命試驗中失效機理是否等同;三:估計B?S分布模型中的形狀參數與加速模型參數;四:外推計算常規應力下的產品可靠壽命;本發明保證了產品可靠壽命的準確性和有效性;適用性強,檢測精度高;大大降低了計算量;所述方法科學,工藝性好,具有廣闊推廣應用價值。
聲明:
“基于B-S分布的加速機理等同性檢驗與壽命預測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)