本實用新型公開了一種半導體檢測用四探針,包括本體,所述本體的上端固定安裝有絕緣板,所述絕緣板上端的中部固定安裝有測試板,所述本體后端的中部固定安裝有支架,所述支架的前端延伸至測試板上方,所述絕緣板上端的左端固定安裝有控制臺,所述控制臺的上端固定安裝有數示屏,所述數示屏的下端嵌入在控制臺的內部,所述數示屏的上端與控制臺的上端為同一平面。該半導體檢測用四探針,通過安裝壓力傳感器可在對半導體進行檢測時可對測試頭下探的壓力進行探測,避免下探壓力過大將半導體原件造成損傷,使得測試數據失效,有效的提高了測試的精度,且對半導體原件進行保護,同時使測試更加的便捷,有效的增加了測試效率。
聲明:
“半導體檢測用四探針” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)