合肥金星智控科技股份有限公司
宣傳

位置:中冶有色 >

有色技術頻道 >

> 失效分析技術

> 光電薄膜器件的特性檢測方法

光電薄膜器件的特性檢測方法

808   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 09:00:03
本申請實施例提供一種光電薄膜器件的特性檢測方法,在對待測光電薄膜器件進行制樣處理,得到切片樣品的基礎上,配置導電探針,以及與導電探針連接的開爾文探針力顯微鏡。利用開爾文探針力顯微鏡通過導電探針采集切片樣品的參數分布數據信息。利用該特性檢測方法,可得到數值化的參數分布數據信息,實現更為細微化的檢測,提高檢測的全面性,為后續待測光電薄膜器件的失效判斷提供數據依據。
登錄解鎖全文
聲明:
“光電薄膜器件的特性檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
分享 0
         
舉報 0
收藏 0
反對 0
點贊 0
標簽:
失效分析
全國熱門有色金屬技術推薦
展開更多 +

 

中冶有色技術平臺

最新更新技術

報名參會
更多+

報告下載

赤泥綜合利用研究報告2025
推廣

熱門技術
更多+

衡水宏運壓濾機有限公司
宣傳
環磨科技控股(集團)有限公司
宣傳

發布

在線客服

公眾號

電話

頂部
咨詢電話:
010-88793500-807
專利人/作者信息登記
在线精品视频播放|无码 有码 国产18p|宅男精品一区在线观看|伊人色综合久久天天人手人婷|亚洲熟肥妇女BBXX