本發明公開了一種檢測集成電路的測試探針卡,其探針座上成型有探針孔,探針孔內插接有探針,探針包括中部的止擋部,止擋部的上端面檢測桿,檢測桿的上端露出探針座的上端面,止擋部的下端成型有螺柱,螺柱上螺接有上永磁體,上永磁體的下側的探針座探針孔內插接有下永磁體,下永磁體上端面的磁極和上永磁體下端面的磁極相同;探針座探針孔的側壁上成型有凹槽,探針座凹槽內插接有豎直的導電片,導電片的上端成型有圓弧形的彈性部,彈性部壓靠在探針的止擋部上,彈性部的下端彎折成型有連接部,連接部通過導電螺釘和下永磁體相連接導電螺釘抵靠在檢測電路板上。它結構簡單,制造及組裝方便,能避免因彈簧機械疲勞失效而造成的接觸不良。
聲明:
“檢測集成電路的測試探針卡” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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