本申請涉及空間電推進技術領域,具體而言,涉及一種離子推力器屏柵極濺射刻蝕仿真分析方法,通過構建仿真計算模型,建立高能離子與屏柵極表面濺射腐蝕速率之間的關系,實現對屏柵極失效發生的概率進行評估。一方面是基于離子推力器放電室的基礎理論知識,進一步明確放電室氣體放電過程和高能離子產生過程,另一方面是明晰高能離子對固體表面的轟擊濺射刻蝕過程和工作機制,仿真計算結果可為設計人員在離子電推進產品研制及優化設計提供手段支持和數據參考,以達到大幅縮短產品研發周期、降低產品研制成本的目的。
聲明:
“離子推力器屏柵極濺射刻蝕仿真分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)