本發明公開了一種基于多層感知器神經網絡的電路良率分析方法,包括步驟:一、均勻分布采樣:針對電路器件的各項工藝變化參數,采用均勻分布采樣的方法得到總量樣本;二、蒙特卡羅仿真:采用蒙特卡洛仿真方法對總量樣本進行電路仿真,獲得電路失效樣本;三、重要性采樣:統計電路失效樣本各參數的均值,并將其作為電路失效區域的中心點,以該點為原點在電路失效區域進行高斯分布采樣得到重要樣本;四、多層感知器神經網絡篩選:將重要樣本輸入預先訓練好的多層感知器神經網絡進行篩選,得到電路失效的采樣點;五、電路良率計算:采用重要性采樣公式計算出電路良率。本發明能夠提供快速且準確的良率驗證分析,在縮短項目周期的同時提升產品可靠性。
聲明:
“基于多層感知器神經網絡的電路良率分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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