本發明公開了一種芯片燒錄數據的采集分析方法和系統,用于芯片燒錄機,所述方法包括如下步驟:對芯片進行燒錄;記錄每顆芯片的燒錄信息和測試信息;將所述燒錄信息和測試信息通過互聯網發送到服務器。所述每顆芯片的燒錄信息,包括以下信息:芯片的識別號、型號、燒錄參數、燒錄成功與否、燒錄失敗標志信息。在記錄每顆芯片的燒錄信息之前,每一顆芯片都首先被燒錄機識別出來。所述每顆芯片的燒錄信息和測試信息存儲在燒錄機的存儲器中。與現有技術相比,本發明具有如下有益效果:該方法通過對燒錄階段的數據收集,可以使得芯片廠家掌握第一手的燒錄階段的生產資料,并可追溯該芯片的整個生產流程,通過數據分析的方法,找出燒錄失效的原因,進行改善。
聲明:
“芯片燒錄數據的采集分析方法和系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)