本發明提供了一種液晶面板顯示驅動芯片的電性分析方法,該方法包括以下步驟:A、分析液晶面板顯示異常的表現方式,尋找加電方式的依據;B、研究液晶面板顯示驅動芯片的各引腳的功能,確定需要進行電性判斷的引腳;C、根據芯片的引腳布局圖和PCB板的引線布局圖,確定在開蓋前的電性測量位置,測量開蓋前的電性;D、開蓋后,使用探針直接探測芯片的引腳,進行加電測量,得出開蓋后的電性特征;E、開蓋前后的異常電性對比,判斷失效點在封裝級還是在晶圓級。本發明通過該種適合于液晶面板顯示驅動芯片的電性分析方法,能夠有效、合理地對開蓋前后的電性特征進行比對,便于后續做出失效點是在封裝級還是在晶圓級的判斷。
聲明:
“液晶面板顯示驅動芯片的電性分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)