本發明公開了一種快速篩選芯片失效風險的方法,把好品周圍芯片的失效率做運算再判斷,周邊芯片失效率>87.5%中間的原好品判斷為壞品,一顆好品周圍有8顆芯片,其中失效7或是8顆測試為壞品,判斷中間好品為壞品,一顆好品周圍有7顆芯片,其中周圍失效7顆,判斷中間好品為壞品;本發明提供的快速篩選芯片失效風險的方法,將有潛在風險的芯片剔除,保證產品質量。
聲明:
“快速篩選芯片失效風險的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)