本發明提供一種TDDB失效預警電路,包括:應力電壓產生模塊100,其輸入端接入時鐘信號,用于產生應力電壓;應力電壓選擇模塊200,與應力電壓產生模塊100的輸出端連接,用于選擇不同的應力加載到測試電容209,加速所述測試電容的TDDB失效;輸出模塊300,與應力電壓選擇模塊的輸出端連接,用于將輸入電壓轉化為標準的數字信號輸出;并且當所述測試電容發生失效擊穿時,所述輸出模塊輸出低電平,發出報警信號。本發明具有靈活性、高可靠性,以及易于實現和推廣應用等優點,能夠在集成電路發生TDDB失效前準確地給出報警信號。
聲明:
“TDDB失效預警電路” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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