一種判斷失效率與選擇最佳預處理周期的方法, 至少包括 : 提供數個集成電路; 根據測試環境下各集成電路的有 效工作期限建立失效率一測試時間關系, 并建立加速因子函數, 它為測試環境的測試時間與正常工作環境的真實時間的關系 使用以測試時間或真實時間為變數的函數模擬失效率一時間 關系, 此測試時間與真實時間的轉換使用加速因子函數, 且函數 的轉折點即為最佳預處理周期; 對真實時間大於最佳預處理周 期的部份進行函數的積分計算, 以得到累積失效率一真實時間 函數。當函數轉折點所對應的特定測試時間前已有不只一個集 成電路失效時, 可消除部份測量資料并重新找尋特定測試時間, 直到在特定測試時間前只有一個集成電路失效為止。
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