本實用新型涉及芯片測試技術領域,公開了一種快速判定DDR芯片失效的裝置,以便對取下的DDR芯片能快速有效判定是否失效。本實用新型包括用于和DDR進行讀寫操作的MCU、用于存儲DDR設置參數的FLASH、用于DDR芯片電接入并固定DDR芯片的DDR測試插座、串行數據通信接口以及人機交互裝置;所述MCU分別與所述FLASH、DDR測試插座、串行數據通信接口電連接,所述串行數據通信接口與所述人機交互裝置電連接。在使用時,可將該DDR芯片放入DDR測試插座,MCU按DDR芯片的規格參數,對DDR進行讀寫操作,如讀寫操作正常,表示該芯片正確,如反饋錯誤,表示該芯片失效,進而起到快速判定的目的。本實用新型適用于DDR芯片失效檢測。
聲明:
“快速判定DDR芯片失效的裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)