功率轉換電路通常由若干并聯工作的MOSFET組成。因為熱循環和機械運作,MOSFET或MOSFET的各個電連接可能失效。根據本發明,提供一種用于多個并聯的MOSFET的診斷電路,其至少基于MOSFET的溫度或MOSFET的柵電壓之一預測或確定可能的失效。有利的是,可以提供MOSFET的連續監測,并可以提供MOSFET失效的早期確定。
聲明:
“并聯MOSFET的失效預測” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)