合肥金星智控科技股份有限公司
宣傳

位置:中冶有色 >

有色技術頻道 >

> 失效分析技術

> 監測SRAM存儲區通孔對準失效的測試結構

監測SRAM存儲區通孔對準失效的測試結構

819   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 08:59:33
本發明提供的一種監測SRAM存儲區通孔對準失效的測試結構,包括第一測試單元和/第二測試單元;所述第一測試單元用于測試SRAM存儲區的通孔是否發生橫向漂移;以及所述第二測試單元用于測試SRAM存儲區的通孔是否發生縱向漂移。本發明通過第一測試單元判斷出通孔是否發生橫向漂移,可以檢測SRAM存儲區的通孔中形成的鎢插塞是否連通了上層金屬層和下層金屬層,和/或,通過第二測試單元可以判斷出通孔是否發生縱向漂移,可以檢測SRAM存儲區的通孔中形成的鎢插塞是否連通了上層金屬層和下層金屬層,從而監測SRAM存儲區通孔是否對準失效。
登錄解鎖全文
聲明:
“監測SRAM存儲區通孔對準失效的測試結構” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
分享 0
         
舉報 0
收藏 0
反對 0
點贊 0
標簽:
失效分析
全國熱門有色金屬技術推薦
展開更多 +

 

中冶有色技術平臺

最新更新技術

報名參會
更多+

報告下載

赤泥綜合利用研究報告2025
推廣

熱門技術
更多+

衡水宏運壓濾機有限公司
宣傳
環磨科技控股(集團)有限公司
宣傳

發布

在線客服

公眾號

電話

頂部
咨詢電話:
010-88793500-807
專利人/作者信息登記
在线精品视频播放|无码 有码 国产18p|宅男精品一区在线观看|伊人色综合久久天天人手人婷|亚洲熟肥妇女BBXX