本發明提供一種集成電路失效位置檢查用裝置,包括檢查臺,支撐架,熱發射顯微鏡,可調節存放架結構,可調供電架結構,可調節監測架結構和顯示屏,所述的檢查臺的下部螺栓安裝有支撐架;所述的檢查臺的上部左側安裝有熱發射顯微鏡;所述的熱發射顯微鏡的下部設置有可調節存放架結構;所述的檢查臺的中上部安裝有可調供電架結構。本發明T型旋轉桿的垂直段膠接有橡膠絕緣套,有利于在使用時方便使用者握住T型旋轉桿在定位槽內轉動,同時方便對夾裝在彈簧接線夾內的二極管進行翻轉,實現全方位的檢測。
聲明:
“集成電路失效位置檢查用裝置以及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)